رمزگشایی از سطح جامدها عنوان مقاله‌ای است که در فصل‌نامه «رشد آموزش شیمی» منتشر شده است
در ابتدای مقاله می‌خوانیم: «ترکیب شیمیایی و خواص فیزیکی سطح یک جامد در تماس با یک فاز مایع یا گاز، تفاوت چشمگیری با درون جامد دارد.
توصیف این خواص اغلب در زمینه‌هایی مانند فناوری فیلم نازک نیم‌رسانا، فعالیت سطح فلزها و مطالعات رفتار و عملکرد غشاهای زیست‌شناختی مهم است. میکروسکوپ الکترونی پویشی، اطلاعات ریخت‌شناسی و نقشه‌برداری از سطوح جامدها را در اختیار می‌گذارد. همچنین از وسایل مورد استفاده در فناوری نانو است که تصویر ذره ها را تا ابعاد 10 نانومتر برای مطالعه تهیه می‌کند.»
در ادامه مقاله آمده است: «روش‌های کلاسیک که اطلاعاتی درباره ماهیت فیزیکی سطوح دربردارند اطلاعات اندکی در مورد ماهیت شیمیایی آن‌ها در اختیار ما قرار می‌دهند. روش‌های طیف‌بینی سطح، اطلاعات شیمیایی کیفی و کمی درباره ترکیب لایه سطحی یک جامد در اختیار قرار می‌گذارد. یکی از وسایل بررسی سطوح جامد، میکروسکوپ الکترونی پویشی SEM است که عملکرد آن براساس تجزیه الکترون‌های نشری تولید شده به‌وسیله باریکه‌های فرودی استوار است.
در SEM به‌جای پرتوهای نور، از الکترون استفاده می‌شود. بنابراین اندازه‌گیری طیف‌سنجی شامل تعیین توان این باریکه الکترونی به صورت تابعی از انرژی یا فرکانس الکترون‌هاست. در این میکروسکوپ سطح یک نمونه جامد در یک الگوی نمایی، با باریکه‌ای از الکترون‌های پرانرژی پویش می‌شود. در این فرایند چند نوع علامت از یک سطح تولید می‌شود، که الکترون‌های ثانویه و اوژه، فوتون‌های فلوئورسان پرتوی ایکس و فوتون‌ها با انرژی متفاوت، از آن جمله‌اند.
در این میان علامت‌های مربوط به الکترون‌های ثانویه به‌عنوان اساس کار میکروسکوپ الکترونی پویشی و نشر پرتوی ایکس به‌کار می‌رود.»
در ادامه مقاله، به اطلاعات دیگری که توسط SEM در اختیار ما قرار می‌گیرد اشاره شده است که عبارتند از:
- ویژگی‌های سطح جامد
- شکل، اندازه و نحوه قرارگیری ذره‌ها در سطح جامد
- اجزایی که نمونه را می‌سازند
نویسندگان: سید محمد حسینی، دکترای شیمی تجزیه و علی موسی‌پور کارشناس ارشد فیزیک اتمی و مولکولی